堀場（中國）貿(mào)易有限公司(HORIBA)將攜多款產(chǎn)品亮相此次展會。值此，誠摯邀請第三代半導體產(chǎn)業(yè)同仁共聚論壇，蒞臨?A28號展位參觀交流、洽談合作。?

關(guān)于?HORIBA

堀場（中國）貿(mào)易有限公司(HORIBA)成立至今已有70多年，是一家歷史悠久的跨國集團公司。總部位于日本，現(xiàn)已在全球29個國家設立50家分公司，構(gòu)建了覆蓋全球的開發(fā)、生產(chǎn)、銷售與服務網(wǎng)絡。在能源、環(huán)境、生物、醫(yī)療、先進材料與半導體等多個領(lǐng)域，HORIBA為全球政府、高校及工業(yè)企業(yè)提供高精密的計量儀器和先進的檢測分析工具。業(yè)務范圍涵蓋發(fā)動機排放檢測、科學分析、環(huán)境監(jiān)測、半導體工藝過程控制、體外醫(yī)療診斷、生物技術(shù)及新能源發(fā)展與利用等。多年來，HORIBA順應市場的不斷變化，堅持創(chuàng)新，為全球客戶提供具有高適配度、高附加值且性能卓越的產(chǎn)品與服務，是科研、企業(yè)研發(fā)、生產(chǎn)制造及質(zhì)量控制的優(yōu)選伙伴。

產(chǎn)品介紹?

半導體材料表征解決方案

1.結(jié)構(gòu)表征

·?微區(qū)應力分析

·?材料晶型鑒別、摻雜缺陷

·?量子阱深度剖析

·?載流子濃度，器件結(jié)溫分析

·?微晶硅晶化率分析

·?Si/SiC /GaN/GaAs/InP

儀器：LabRAM Odyssey 高速高分辨顯微共焦拉曼光譜儀

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2.薄膜厚度

·?材料薄膜厚度測量

·?SiO2、SiNx等從幾埃到幾十μm厚度

·?折射率、消光系數(shù)分析

儀器：UVISEL PLUS 研究級經(jīng)典型橢偏儀

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3.光致發(fā)光PL

·?晶圓表面缺陷、污染物檢測

·?載流子濃度和帶隙分析

·?外延層生長均勻性和雜質(zhì)檢測

儀器： FluoroMax+/(P/TCSPC)高靈敏一體式熒光光譜儀

???????????????iHR320/iHR550成像光譜儀

???????????????Fluorolog-QM^TM科研級熒光光譜儀

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?參會聯(lián)系

?今年，第十屆國際第三代半導體論壇&第二十一屆中國國際半導體照明論壇（IFWS＆SSLCHINA2024）將于11月18-21日在蘇州國際博覽中心舉辦，國內(nèi)外院士專家齊聚，數(shù)十場會議活動，數(shù)百位報告嘉賓，全產(chǎn)業(yè)鏈知名企業(yè)參與&參展，內(nèi)容全面覆蓋行業(yè)工藝裝備、原材料、技術(shù)、產(chǎn)品與應用各環(huán)節(jié)，融合聚集產(chǎn)、學、研、用、政、金多個層面的資源，年度國際第三代半導體產(chǎn)業(yè)“風向標”盛會，11月相聚蘇州，共襄盛會，共謀發(fā)展！歡迎業(yè)界同仁咨詢參展參會，免費觀展交流合作！》》》最新60+報告嘉賓公布！IFWS&SSLCHINA2024報名中！

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